Du học sinh bị bắt vì gian lận thi TOEIC ở Nhật Bản

8 giờ trướcBài gốc

Du học sinh Trung Quốc bị bắt vì gian lận. Ảnh: Freepik.

Đài NHK của Nhật Bản đưa tin cảnh sát Tokyo đã bắt giữ một nghiên cứu sinh người Trung Quốc, tên là Wang Likun (27 tuổi), vì "cầm đầu" trong một vụ gian lận quy mô lớn trong kỳ thi TOEIC tại Nhật Bản.

Theo thông tin cảnh sát cung cấp, Wang đã cấu kết với những người khác, sử dụng danh tính của một thí sinh để vào địa điểm thi TOEIC vào chiều 18/5 mà không có lý do chính đáng.

Trước đó, đơn vị tổ chức kỳ thi TOEIC liên hệ với cảnh sát, nói rằng họ thấy nhiều thí sinh có khuôn mặt giống nhau nhưng tên khác nhau. Cảnh sát quyết định bố trí lực lượng canh gác tại điểm thi ngày 18/5. Khi Wang xuất hiện, anh nói với lễ tân rằng mình "quên thẻ dự thi".

Khi bị cảnh sát thẩm vấn, Wang thừa nhận đang giả danh người khác. Anh nói rằng mình đang cố làm thẻ dự thi phụ với cái tên khác với những lần thi trước đó. Nam sinh cũng nói mình làm vậy vì tiền.

Ngoài sử dụng danh tính giả, Wang còn lén mang theo micro nhỏ được giấu trong khẩu trang. Cảnh sát nghi ngờ anh mang theo vật dụng này để "tuồn" đáp án cho những thí sinh khác.

Thông tin thêm về vụ việc, cảnh sát Tokyo cho biết Wang khai nhận trong lúc tìm việc làm thêm, có người đề nghị trả tiền để anh làm bài thi hộ. Do đó, cảnh sát cũng nghi ngờ có thể Wang đã tham gia hoạt động tương tự trước đây.

Ngoài ra, trong phòng nơi Wang làm bài thi TOEIC, khoảng 30% người dự thi không có mặt. Cảnh sát nghi ngờ có thể do Wang bị bắt, những người nằm trong đường dây gian lận, được Wang "tuồn" đáp án, mới quyết định bỏ thi.

Hiện, hồ sơ của Wang đã được cảnh sát chuyển đến cơ quan công tố. Vụ việc sẽ tiếp tục được điều tra, làm rõ và có quyết định xử phạt trong thời gian tới.

Thái An

Nguồn Znews : https://lifestyle.znews.vn/du-hoc-sinh-bi-bat-vi-gian-lan-thi-toeic-o-nhat-ban-post1554610.html